오현민, 한승재, 박준석, 김창훈
한국정보보호학회 하계학술대회, 2026.05.07, pp. 1157–1159 (공동저자)
USB 메모리와 같은 NAND Flash 기반 저장장치는 디지털 포렌식의 주요 분석 대상이지만, 외부 열에 노출되었을 때 데이터가 어떤 순서로 손상되는지는 충분히 보고되지 않았다. 본 논문은 외부 가열 시간을 단계적으로 늘려 가며 USB 저장장치의 데이터 접근성 변화와 손상 양상을 실험적으로 관찰한다. 예비 실험에서는 유의미한 손상이 나타나지 않았으나 열전달 조건을 강화한 본 실험에서는 일부 파일 손상, 해시 값 불일치, 파일시스템 이상, 장치 인식 불가가 순차적으로 관찰되었다. 데이터 손상은 특정 시점에 한 번에 발생하기보다 열이 누적되면서 단계적으로 진행되었고, 손상 여부는 설정 온도보다 실제 열전달 효율의 영향을 크게 받았다. 저자들은 실험 대상이 CBM2199E 칩을 적용한 단일 모델과 FAT32 파일시스템에 한정된다는 점을 한계로 밝히고, 다양한 장치 유형과 정밀한 온도 제어를 반영한 후속 연구가 필요하다고 제안한다.
핵심어: 디지털 포렌식, USB, NAND Flash, 열 손상, 데이터 복구